تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۴ پاسخ تکراری در مدت زمان ۶,۹۵ ثانیه یافت شد.

1. Built-in test for VLSI: pseudorandom techniques

پدیدآورنده : Paul H. Bardell, William H. McAnny, Jacob Savir

موضوع : Integrated circuits--Very large scale integration - Testing

۴ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است